»Набор контейнеров
»Декоративная композиция
»Сковороды
»Набор ложек
»Подносы
»Чайники
»Пароварки
»Набор термокружек
»Чайный набор
»Форма для запекания
»Горшочки
»Мельницы
»Набор досок
»Сотейники
»Лопатки
»Сахарницы
»Муляжи
»Скатерти
»Ножницы
»Держатели
»Полотенцы
»Кастрюли
»Настенные часы
»Миски
»Ковшы
»Терки
»Сумки
»Тарелки
»Книжки
Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия и топография Издательство: Наука, 2002 г Твердый переплет, 274 стр ISBN 5-02-024963-7 Тираж: 700 экз Формат: 70x100/16 (~167x236 мм) инфо 7180t.

Переводчики: И Шульпина Т Аргунова В монографии английских ученых освещены основы теории и практики современных неразрушающих рентгеновских методов исследования и контроля реальной структуры материабцмцтлов электронной техники Объединены высокоразрешающая дифрактометрия и топография, которые особенно эффективно используются совместно, охвачены все аспекты их применения Особое внимание уделено интерпретации дифракционных данных и изображений дефектов в кристаллах, а вемийтакже современной технике исследований, включая использование сверхмощных источников синхротронного излучения Для научных работников, инженеров, преподавателей и студентов, специализирующихся в области материаловедения, кристаллофизики и технологии материалов электронной техники Перевод с английского Авторы Д Боуэн D Keith Bowen Б Таннер Brian K Tanner.

Цена: 249 р.